Координатором
Предконференции выступил доктор технических наук, профессор, заместитель
директора Центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ Александр
Никифоров. Его работа не ограничивалась организацией программы: на протяжении
всей Предконференции он активно участвовал в обсуждениях, связывая отдельные
технические доклады с более широкой задачей — формированием системного подхода
к доверенной электронике для регулируемых рынков критической инфраструктуры. В
работе Предконференции также принял участие доктор технических наук, профессор
Виталий Телец — директор Центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ
и руководитель Консорциума «Доверенные и экстремальные электронные системы».
Участие научных руководителей Консорциума подчеркнуло преемственность двух
ключевых направлений его работы — экстремальной и доверенной электроники — и их
постепенное объединение в единую инженерную повестку.
Главной
темой обсуждения стало пересечение двух критически важных для страны
направлений. Речь идет о доверенной электронике —
подтвержденном качестве и безопасности компонентной базы для критической
информационной инфраструктуры (КИИ), и экстремальной электронике —
создании изделий, способных стабильно работать при радиации, в широком
диапазоне температур и при высоких электромагнитных нагрузках.
Программа
мероприятия оказалась насыщенной: более 50 докладов, сгруппированных в пять
ключевых блоков, охватили весь спектр задач — от стандартизации до конкретных
испытаний.
В
первый день, 7 сентября, в блоке «Экстремальная электроника» под руководством
Георгия Чукова (НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС») обсуждали методики радиационных
испытаний. Особый интерес вызвал доклад Андрея Янькова («НПП «Детектор») о
выявлении контрафакта. Как отметил эксперт, подделки могут обнаруживаться на
любом этапе — от проверки документов до момента облучения, а перенос
результатов старых испытаний на новые партии без проверки недопустим.
Алексей
Метревели из ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ представил компактные методы диагностики деградации
МОП-транзисторов. Исследования показали, что токи утечки могут искажать
результаты, но доработанный метод фазового анализа оказался устойчив к этим
помехам. Отдельное внимание уделили статистике: Юлия Московская (НИЯУ МИФИ / АО
«ЭНПО СПЭЛС») показала, как анализ радиационного контроля помогает выявлять
скрытые дефекты производства.
Второй
день, 8 сентября, был посвящен технологическому и контрольно-измерительному
оборудованию, а также разработке ЭКБ. Участники обсудили вопросы
импортозамещения, развития отечественного электронного машиностроения и
производства особо чистых материалов. Важным событием стала презентация книг
издательства «Техносфера» о технологии КМОП и устройствах обработки сигналов, а
также интерактивный мастер-класс по разработке СВЧ-усилителя.
Третий
и четвертый дни прошли под эгидой доверия и безопасности. В блоке «Доверенная
электроника» под модераторством Леонида Кессаринского (АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ)
обсуждали защиту от аппаратных закладок, безопасность памяти и методы анализа
побочных каналов утечки информации. Свои доклады представили специалисты
«Лаборатории Касперского», МЦСТ, Курчатовского института и ЮФУ.
Завершающий
день открытых мероприятий, 10 сентября, был полностью посвящен стандартизации.
Участники под руководством модераторов из АО «НПО «КИС» и АО «РНИИ
«Электронстандарт» детально разобрали проекты национальных стандартов ГОСТ Р
для доверенных интегральных микросхем и программно-аппаратных комплексов,
предназначенных для КИИ.
Предконференция
стала не только дискуссионной площадкой, но и образовательной. Участники могли
оформить участие как программу дополнительного профессионального образования
(ДПО) и получить удостоверение. По итогам мероприятия выпущен сборник
материалов, а 9 сентября состоялся «Открытый день» для СМИ.
Как
отмечают организаторы, прошедшая встреча стала важным московским этапом
подготовки к основной программе форума «Микроэлектроника 2026», которая прошла
с 27 сентября по 3 октября на Федеральной территории «Сириус». В работе
Предконференции приняли участие представители ведущих научных и промышленных
центров страны: НИЯУ МИФИ, «Росатом-Наука», Курчатовский институт, МЦСТ,
«Лаборатория Касперского», НИИСИ, НИИМЭ и многие другие.
Константин Фрумкин, начальник отдела по работе со СМИ НИЯУ
МИФИ
