С 7 по 10 сентября 2026 года в Москве, на площадке Консорциума НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС», прошла Предконференция №1 «Доверенная и экстремальная электроника». Это мероприятие стало первым крупным этапом Российского форума «Микроэлектроника 2026». Формат встречи был смешанным: специалисты могли участвовать как очно, так и онлайн.

Координатором Предконференции выступил доктор технических наук, профессор, заместитель директора Центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ Александр Никифоров. Его работа не ограничивалась организацией программы: на протяжении всей Предконференции он активно участвовал в обсуждениях, связывая отдельные технические доклады с более широкой задачей — формированием системного подхода к доверенной электронике для регулируемых рынков критической инфраструктуры. 

В работе Предконференции также принял участие доктор технических наук, профессор Виталий Телец — директор Центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ и руководитель Консорциума «Доверенные и экстремальные электронные системы». Участие научных руководителей Консорциума подчеркнуло преемственность двух ключевых направлений его работы — экстремальной и доверенной электроники — и их постепенное объединение в единую инженерную повестку.

Главной темой обсуждения стало пересечение двух критически важных для страны направлений. Речь идет о доверенной электронике — подтвержденном качестве и безопасности компонентной базы для критической информационной инфраструктуры (КИИ), и экстремальной электронике — создании изделий, способных стабильно работать при радиации, в широком диапазоне температур и при высоких электромагнитных нагрузках.

Программа мероприятия оказалась насыщенной: более 50 докладов, сгруппированных в пять ключевых блоков, охватили весь спектр задач — от стандартизации до конкретных испытаний.

В первый день, 7 сентября, в блоке «Экстремальная электроника» под руководством Георгия Чукова (НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС») обсуждали методики радиационных испытаний. Особый интерес вызвал доклад Андрея Янькова («НПП «Детектор») о выявлении контрафакта. Как отметил эксперт, подделки могут обнаруживаться на любом этапе — от проверки документов до момента облучения, а перенос результатов старых испытаний на новые партии без проверки недопустим.

Алексей Метревели из ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ представил компактные методы диагностики деградации МОП-транзисторов. Исследования показали, что токи утечки могут искажать результаты, но доработанный метод фазового анализа оказался устойчив к этим помехам. Отдельное внимание уделили статистике: Юлия Московская (НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС») показала, как анализ радиационного контроля помогает выявлять скрытые дефекты производства.

Второй день, 8 сентября, был посвящен технологическому и контрольно-измерительному оборудованию, а также разработке ЭКБ. Участники обсудили вопросы импортозамещения, развития отечественного электронного машиностроения и производства особо чистых материалов. Важным событием стала презентация книг издательства «Техносфера» о технологии КМОП и устройствах обработки сигналов, а также интерактивный мастер-класс по разработке СВЧ-усилителя.

Третий и четвертый дни прошли под эгидой доверия и безопасности. В блоке «Доверенная электроника» под модераторством Леонида Кессаринского (АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ) обсуждали защиту от аппаратных закладок, безопасность памяти и методы анализа побочных каналов утечки информации. Свои доклады представили специалисты «Лаборатории Касперского», МЦСТ, Курчатовского института и ЮФУ.

Завершающий день открытых мероприятий, 10 сентября, был полностью посвящен стандартизации. Участники под руководством модераторов из АО «НПО «КИС» и АО «РНИИ «Электронстандарт» детально разобрали проекты национальных стандартов ГОСТ Р для доверенных интегральных микросхем и программно-аппаратных комплексов, предназначенных для КИИ.

Предконференция стала не только дискуссионной площадкой, но и образовательной. Участники могли оформить участие как программу дополнительного профессионального образования (ДПО) и получить удостоверение. По итогам мероприятия выпущен сборник материалов, а 9 сентября состоялся «Открытый день» для СМИ.

Как отмечают организаторы, прошедшая встреча стала важным московским этапом подготовки к основной программе форума «Микроэлектроника 2026», которая прошла с 27 сентября по 3 октября на Федеральной территории «Сириус». В работе Предконференции приняли участие представители ведущих научных и промышленных центров страны: НИЯУ МИФИ, «Росатом-Наука», Курчатовский институт, МЦСТ, «Лаборатория Касперского», НИИСИ, НИИМЭ и многие другие. 

 

Константин Фрумкин, начальник отдела по работе со СМИ НИЯУ МИФИ